CMOS需求快速增長 愛德萬推測試模組卡位

精實新聞 2013-01-16 12:25:56 記者 羅毓嘉 報導

測試設備大廠愛德萬測試(Advantest,NYSE:ATE)看準CMOS晶片應用面越發廣泛、測試需求持續成長,已在T2000測試平台上推出CMOS感測元件高速測試模組。愛德萬SoC業務協理陳建州指出,CMOS感測晶片的出海口隨行動通訊打開、規格不斷提高,愛德萬的解決方案可實施CMOS晶片的大規模並行同測,可協助客戶有效降低測試成本。

現今市場上附相機功能的消費性電子產品比比皆是,從智慧型手機、平板電腦,到數位攝影機、汽車夜視系統等,行動攝影模組的發展可謂方興未艾,其中最重要的核心晶片當屬CMOS/CCD等感測元件。

愛德萬測試SoC業務協理陳建州表示,過去CMOS因影像雜訊高於CCD晶片,在高階影像感測產品的導入狀況不如CCD、主要應用受限於消費性電子產品;然而近年來CMOS的雜訊問題在技術上已克服、影像擷取速度也不斷提昇,再加上採矽晶圓製程的CMOS成本原就低於CCD,預期CMOS將成為電子產品最主要的影像感測元件,相應的生產與測試需求也將快速打開。

值得注意的是,隨著CMOS感測晶片的畫素尺寸與解析度拉高,且相機的核心CMOS影像感測元件也因加入AD/DA等功能、SoC電路設計,演變得更加複雜,在晶圓測試階段的需時更長;陳建州指出,測試設備必須能測試複雜的電路、還必須提高影像處理速度和資料傳輸率,才能維持高測試產能,降低測試成本。

對此,愛德萬測試新推出、專屬於CMOS感測元件測試的「3GICAP模組」可與T2000的開放式測試平台完全相容,提供業界速度最快的影像擷取能力,同時能以更具成本效益的做法,並測64 D-PHY與M-PHY介面晶片,進而滿足客戶對於影像感測元件日益增長的測試需求。

陳建州並進一步說明,一部T2000平台可同時容納16個 3GICAP測試模組,這讓單一平台可同時並測64個裝置,大幅提高施測效率;新推出的模組能以既有施測速度進行生產測試,縮短晶片設計、測試、驗證的時間,讓半導體供應商得以在IC設計中加入客製化電路系統,更完全無損於並行測試、彈性效能或測試成本效益。  

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